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X線光電子分光装置(XPS または ESCA)

X線光電子分光装置(XPS または ESCA)

X線光電子分光法(X-ray Photoelectron Spectroscopy : XPS または Electron Spectroscopy for Chemical Analysis : ESCA)は、真空中で試料表面にX線を照射することによって試料中の電子を外に飛び出させ、その放出された光電子の数と運動エネルギーを観測することにより、試料の電子状態(電子の結合エネルギー)を調べる分析手法です。

これにより、表面から数nm〜10nm程度の深さまでの領域の構成元素の同定や定量分析、さらに化学結合状態(単体か化合物かの区別)の判別などができます。

また、真空装置と組み合わせた複合装置とした場合、トランスファーロッドで試料搬送することで、真空を破らず成膜直後の薄膜試料の表面分析が可能になります。

カタログ・パンフレット

TOFLAS-3000 (Rev.3)

パスカル社 表面分析装置

飛行時間型原子散乱表面分析装置 カタログ

RHEEDパンフレット

飛行時間型原子散乱表面分析装置 関連技術情報

飛行時間型原子散乱表面分析装置 紹介動画(1分間)

組み合わせ・販売実績のある表面分析モジュール

VG Scienta社 リンク

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上記以外のカタログ・パンフレットおよび技術資料

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新製品情報

2021年3月
【真空搬送システム】
クラスターシステム
2020年2月
【真空部品】
アジレント社製 新型TMP TwisTorr 305 FS
2017年3月
【真空薄膜形成装置】
レーザーアシスト基板加熱機構
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イベント情報

2022年9月20日〜23日
【併設展示】
応用物理学会秋季学術講演会(於:東北大学 川内キャンパス)
その他のイベント情報 >>

トピックス

2021年5月1日
関東営業所(埼玉県新座市)を移転しました。
2018年12月17日
茨城事業所(茨城県那珂市)を移転しました。
2013年10月31日
文部科学省による「革新的イノベーション創出プログラム(COI STREAM)」拠点に東京大学等と共に採択されました。
2011年4月15日
原子散乱表面分析装置 が、りそな中小企業振興財団・日刊工業新聞共催第23回「中小企業優秀新技術・新製品賞」一般部門“優良賞”を受賞しました。
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